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智能卡相关测试分析服务

 

基于专业的技术背景和强大的测试设备,晶华科技Flashtech提供智能卡相关的测试分析服务和故障定位解析等服务。

其中,针对于故障定位解析服务,我司工程师可以携带设备到客户现场进行定位解析,包括解析应用层的数据交互和定位实际通讯或交易中的故障源。

我司可支持的待测设备包括以下:

    • 接触式卡
      • EMV L1, ISO7816 等相关规范底层测试分析和故障定位解析服务
      • EMV L2 application layer等相关规范上层应用层测试分析和故障定位解析服务
    • 非接式卡
      • EMV L1, ISO14443, ISO18092, ISO15693等相关规范底层测试分析和故障定位解析服务
      • EMV L2 application layer等相关规范上层应用层测试分析和故障定位解析服务
  • 终端
    • 接触式终端
      • EMV L1, ISO7816 等相关规范底层测试分析和故障定位解析服务
      • EMV L2 application layer等相关规范上层应用层测试分析和故障定位解析服务
    • 非接式终端
      • EMV L1, ISO14443, ISO18092, ISO15693等相关规范底层测试分析和故障定位解析服务
      • EMV L2 application layer等相关规范上层应用层测试分析和故障定位解析服务

 



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